Опции для LEAP®
Интегрированный плазменный очиститель
Полностью интегрированный автоматический плазменный очиститель обеспечивает как повышение производительности, так и снижение эксплуатационных расходов на систему LEAP.
Анализатор остаточных газов
Позволяет проводить анализ парциального давления прибора LEAP.
LEAP 5000 VCTM
Модуль вакуумного и криопереноса (VCTM) позволяет транспортировать образцы между LEAP и вспомогательными рабочими станциями, поддерживая при этом как условия сверхглубокого вакуума (UHV), так и криогенные условия. Модуль использует UHV-совместимую портативную камеру, которая полностью интегрирована (через загрузочную станцию) в LEAP 5000. Обратите внимание, что дополнительные рабочие станции также должны быть совместимы с VCTM, и эта возможность не гарантирована данной опцией. Обратитесь в отдел продаж CAMECA для получения более подробной информации.
Пакет повышения производительности
Расширяет возможности хранения системы LEAP и включает полностью интегрированную карусель с подогревом in situ для сокращения времени откачки, увеличения пропускной способности образца и улучшения качества вакуума.
Антивибрационный пакет
Платформа активной виброизоляции, позволяющая устанавливать LEAP в средах, не отвечающих стандартам вибрации; это интегрированное решение сочетает в себе активное подавление вибрации с обновленной платформой LEAP. Запатентованная пьезоэлектрическая технология подавляет вибрацию пола в режиме реального времени с активной полосой пропускания, начиная с 0,6 Гц.
Сейсмический комплект
Установленный на заводе сейсмический ограничитель. Для приобретения данной опции должны быть выполнены требования к полу.
Модуль ионно-полевого микроскопа (eFIM)
Добавьте возможности ионно-полевого микроскопа (FIM) к системе LEAP
Опции для LEAP® и EIKOS™
Электроуказатель
Электроуказатель Simplex Electropointer(TM) для производства электрополированных образцов LEAP. ПК для управления и травильные химикаты не включены в комплект.8.
Ручной электрополировальный аппарат
Ручной электрополировальный аппарат разработан для обеспечения максимальной гибкости при изготовлении образцов из всевозможных материалов. Аппарат включает источник питания, химическую обработку и все принадлежности, необходимые для подготовки образцов атомных зондов высокого качества. (Оптический микроскоп и химические реактивы не включены в комплект.)
Усовершенствованный комплект для подготовки образцов
Усовершенствованный комплект для подготовки образцов включает основные компоненты, необходимые для усовершенствованной подготовки образцов на основе FIB.