Skip to content

LEAP 5000

3D атомно-зондовый микроскоп с непревзойденной эффективностью трехмерного анализа в субнанометровом масштабе
LEAP 5000 представляет собой ультрасовременный атомно-зондовый микроскоп производства CAMECA, обеспечивающий превосходную эффективность обнаружения в самых разных металлах, полупроводниках и изоляторах: обнаружение на 40 % больше атомов в кубическом нанометре.
  • Обзор продукта +


    LEAP 5000 собирает информацию в наномасштабе из микромасштабного набора данных, и с высокой точностью определяет элементный состав всего за несколько часов, имеет улучшенные пороги точность и обнаружения, увеличенную скорость анализа образца, а также повышенную производительность и максимальную воспроизводимость.

    • Оптимизация эффективности обнаружения гарантирует беспрецедентную чувствительность
    • Большая область обзора и однородность обнаружения – непревзойденное трехмерное пространственное разрешение
    • Отличные возможности обнаружения с попаданием в одну точку для наиболее точных измерений состава
    • Быстрая и переменная частота импульсов для сверхбыстрого сбора данных 
    • Прочная и эргономичная платформа для повышенной простоты использования и сокращения времени получения результатов
    • Мониторинг в режиме реального времени для обеспечения данных самого высокого качества при каждом измерении
    • Усовершенствованные алгоритмы управления лазером обеспечивают значительно улучшенную эффективность получения результатов по образцам

    Семейство LEAP 5000

    LEAP 5000 XS
    В LEAP 5000 XS сочетается новая технология траектории пролета ионов и улучшенные характеристики детектора — это позволяет увеличить область обзора и достичь беспрецедентной эффективности обнаружения ~80 %, самой высокой среди доступных аналитических методов! Кроме того, усовершенствованный модуль с лазерными импульсами частотой до 2 МГц делает LEAP 5000 XS максимально эффективным и производительным прибором.

    LEAP 5000 XR
    LEAP 5000 XR имеет усовершенствованную конструкцию рефлектрона и улучшенные характеристики детектора (эффективность обнаружения увеличена на ~ 50 %) и все преимущества усовершенствованного модуля импульсного лазера с частотой импульсов до 500 кГц. LEAP 5000 XR – эффективный атомный зонд для самых разных областей исследований и разработок.

    LEAP 5000 R
    Усовершенствованная система импульсного напряжения генерирует импульсы с повышенной на 40 % амплитудой и частотой до 500 кГц. В сочетании с новой усовершенствованной конструкцией рефлектрона и улучшенными характеристиками детектора, это делает LEAP 5000 R самым мощным когда-либо созданным атомным зондом с распылением за счет высокого напряжения.
  • Узнать возможности, предоставляемые атомным зондом LEAP +

  • Скачать документацию +

  • View Recent Webinars +

    • An Introduction to Atom Probe Tomography and its Applications

      пятница, апреля 19, 2019

      CAMECA's Dr. Katherine Rice presents an Introduction to Atom Probe Tomography in a webinar hosted by the Materials Research Society. If you're looking for an easy introduction to the technique, an overview of APT instrumentation and the benefits to your institution or organization, this webinar is a great starting point. Packed with examples, it's the perfect primer on this powerful technology. Please note, you'll need a (free) Materials Research Science account to watch.
      Duration : 61 minutes
    • Atom Probe Analysis of Catalyst Materials PART 1

      вторник, марта 3, 2020

      Aluminum Tracking in Steamed ZSM-5 Zeolites With assistance from Dr. Danny Perea et al. at PNNL; Professors Bert Weckhuysen and Dr. Joel Schmidt at Utrecht University, and Dr. Simon Bare, Stanford. This webinar incorporates materials from: NATURE COMMUNICATIONS | 6:7589 | DOI: 10.1038/ncomms8589 Angew. Chem. Int. Ed. 2016, 55, 11173 –11177 NATURE COMMUNICATIONS | 8: 1666| DOI: 10.1038/s41467-017-01765-0 M. K. Miller et al., Ultramicroscopy 2005, 102, 287 K. Thompson et al., Ultramicroscopy 2007, 107, 131 M. K. Miller et al. Microscopy & Microanalysis 2007,13(6), 428 D. J. Larson et al., Ultramicroscopy 1999, 79, 287 K. Thompson et al, Microscopy & Microanalysis 2006, 12(S2), 1736CD K. Thompson et al., Ultramicroscopy 2007, 107, 131
      Duration : 12 minutes
    • 3D Reconstruction and Analysis of Semiconductor Devices

      понедельник, июля 9, 2018

      Semiconductor devices are some of the most complicated samples for Atom Probe Tomography. In this webinar, Hugues Francois Saint Cyr walks you through semiconductor sample preparation and analysis ensuring that you get the APT results you need from your semiconductor development.
      Duration : 40 minutes
  • видео +

  • Научные публикации +


    Приведенный ниже график иллюстрирует рост атомно-зондовой томографии.

    Принятие научным сообществом и уровень публикаций за последние 10 лет выросли в геометрической прогрессии, что свидетельствует о достижении совершеннолетия атомно-зондовой томографии, единственной микроаналитической методики, обеспечивающей полное понимание наноструктур материалов. Вы можете скачать подборку публикаций APT по этой ссылке: APT публикации - подборка.

    Growth of Atom Probe Tomography publications

  • Пользователи APT по всему миру +

  • Программное обеспечение +

    • AP Suite 6
      AP Suite 6

      Набор инструментов для атомного зонда для рабочих станций анализа данных: удобная платформа для совместной работы, позволяющая легко управлять всеми исследовательскими проектами атомно-зондовой томографии в одной среде.

      Продолжить чтение

    • IVAS Software
      IVAS

      Будучи разработанным специально для атомных зондов CAMECA, IVAS предоставляет мощные функции визуализации и анализа для быстрого и простого извлечения одномерной, двухмерной и трехмерной количественной информации, собранной приборами АЗТ.

      Продолжить чтение

  • Комплекты для модернизации +

    Опции для LEAP®

    Интегрированный плазменный очиститель
    Полностью интегрированный автоматический плазменный очиститель обеспечивает как повышение производительности, так и снижение эксплуатационных расходов на систему LEAP.

    Анализатор остаточных газов
    Позволяет проводить анализ парциального давления прибора LEAP. 

    LEAP 5000 VCTM
    Модуль вакуумного и криопереноса (VCTM) позволяет транспортировать образцы между LEAP и вспомогательными рабочими станциями, поддерживая при этом как условия сверхглубокого вакуума (UHV), так и криогенные условия. Модуль использует UHV-совместимую портативную камеру, которая полностью интегрирована (через загрузочную станцию) в LEAP 5000. Обратите внимание, что дополнительные рабочие станции также должны быть совместимы с VCTM, и эта возможность не гарантирована данной опцией. Обратитесь в отдел продаж CAMECA для получения более подробной информации.

    Пакет повышения производительности
    Расширяет возможности хранения системы LEAP и включает полностью интегрированную карусель с подогревом in situ для сокращения времени откачки, увеличения пропускной способности образца и улучшения качества вакуума.

    Антивибрационный пакет
    Платформа активной виброизоляции, позволяющая устанавливать LEAP в средах, не отвечающих стандартам вибрации; это интегрированное решение сочетает в себе активное подавление вибрации с обновленной платформой LEAP. Запатентованная пьезоэлектрическая технология подавляет вибрацию пола в режиме реального времени с активной полосой пропускания, начиная с 0,6 Гц.

    Сейсмический комплект
    Установленный на заводе сейсмический ограничитель. Для приобретения данной опции должны быть выполнены требования к полу.

    Модуль ионно-полевого микроскопа (eFIM)
    Добавьте возможности ионно-полевого микроскопа (FIM) к системе LEAP

    Опции для LEAP® и EIKOS™

    Электроуказатель
    Электроуказатель Simplex Electropointer(TM) для производства электрополированных образцов LEAP. ПК для управления и травильные химикаты не включены в комплект.8.

    Ручной электрополировальный аппарат
    Ручной электрополировальный аппарат разработан для обеспечения максимальной гибкости при изготовлении образцов из всевозможных материалов. Аппарат включает источник питания, химическую обработку и все принадлежности, необходимые для подготовки образцов атомных зондов высокого качества. (Оптический микроскоп и химические реактивы не включены в комплект.)

    Усовершенствованный комплект для подготовки образцов
    Усовершенствованный комплект для подготовки образцов включает основные компоненты, необходимые для усовершенствованной подготовки образцов на основе FIB.


  • Technical notes +