Skip to content

Invizo 6000

Микроскоп для трехмерной атомно-зондовой томографии с самой большой областью наблюдения
Микроскоп для трехмерной атомно-зондовой томографии Invizo 6000 является крупным технологическим прорывом, который расширяет возможности анализа с атомным зондом. Сверхширокий обзор траекторий пролета ионов и уникальная двухлучевая импульсная система дальнего ультрафиолетового лазерного излучения обеспечивают испарение большего количества ионов с образца, больше данных для анализа, больше информации из каждого набора данных и, следовательно, реконструировать образец с более высокой точностью. Invizo 6000 — это идеальный выбор для проведения передовых исследований в различных областях.
  • Обзор продукта +


    В основе микроскопа для трехмерной атомно-зондовой томографии Invizo 6000 компании CAMECA лежит совершенно новая концепция интегрирующего электрода. Она обеспечивает не только беспрецедентно большую область наблюдения при АЗТ для ионной оптики, но и позволяет симметрично освещать лазером образец, что открывает непревзойденные возможности для анализа.

    Функционал Invizo 6000 позволяет уникальным образом сочетать самую широкую среди всех микроскопов для АЗТ область наблюдения и высокую разрешающую способность по массе (MRP) благодаря применению новой двойной эквипотенциальной линзы. Микроскоп также оснащен усовершенствованным лазерным модулем 257,5 нм дальнего ультрафиолетового излучения (DUV), который значительно улучшает испарение ионов с поверхности образца и повышает качество данных для реконструкции.

    • Управляйте своим экспериментом и пользуйтесь более низким порогом обнаружения благодаря захвату ионов с большей части испаряемой поверхности и получению данных лучшего качества
    • Повышайте точность реконструкции благодаря более равномерному воздействию дальнего ультрафиолетового лазерного излучения и термически синхронному двухстороннему освещению образца
    • Захватывайте большие объемы за меньшее время и получайте больше данных из интересующей вас области
  • Узнать возможности, предоставляемые атомным зондом LEAP +

  • Скачать документацию +

  • Посмотреть вебинары +

    • An Introduction to Atom Probe Tomography and its Applications

      пятница, апреля 19, 2019

      CAMECA's Dr. Katherine Rice presents an Introduction to Atom Probe Tomography in a webinar hosted by the Materials Research Society. If you're looking for an easy introduction to the technique, an overview of APT instrumentation and the benefits to your institution or organization, this webinar is a great starting point. Packed with examples, it's the perfect primer on this powerful technology. Please note, you'll need a (free) Materials Research Science account to watch.
      Duration : 61 minutes
    • Atom Probe Analysis of Catalyst Materials PART 1

      вторник, марта 3, 2020

      Aluminum Tracking in Steamed ZSM-5 Zeolites With assistance from Dr. Danny Perea et al. at PNNL; Professors Bert Weckhuysen and Dr. Joel Schmidt at Utrecht University, and Dr. Simon Bare, Stanford. This webinar incorporates materials from: NATURE COMMUNICATIONS | 6:7589 | DOI: 10.1038/ncomms8589 Angew. Chem. Int. Ed. 2016, 55, 11173 –11177 NATURE COMMUNICATIONS | 8: 1666| DOI: 10.1038/s41467-017-01765-0 M. K. Miller et al., Ultramicroscopy 2005, 102, 287 K. Thompson et al., Ultramicroscopy 2007, 107, 131 M. K. Miller et al. Microscopy & Microanalysis 2007,13(6), 428 D. J. Larson et al., Ultramicroscopy 1999, 79, 287 K. Thompson et al, Microscopy & Microanalysis 2006, 12(S2), 1736CD K. Thompson et al., Ultramicroscopy 2007, 107, 131
      Duration : 12 minutes
    • 3D Reconstruction and Analysis of Semiconductor Devices

      понедельник, июля 9, 2018

      Semiconductor devices are some of the most complicated samples for Atom Probe Tomography. In this webinar, Hugues Francois Saint Cyr walks you through semiconductor sample preparation and analysis ensuring that you get the APT results you need from your semiconductor development.
      Duration : 40 minutes
  • видео +

  • Научные публикации +


    Приведенный ниже график иллюстрирует рост атомно-зондовой томографии.

    Принятие научным сообществом и уровень публикаций за последние 10 лет выросли в геометрической прогрессии, что свидетельствует о достижении совершеннолетия атомно-зондовой томографии, единственной микроаналитической методики, обеспечивающей полное понимание наноструктур материалов. Вы можете скачать подборку публикаций APT по этой ссылке: APT публикации - подборка.

    Growth of Atom Probe Tomography publications

  • Пользователи APT по всему миру +

  • Программное обеспечение +

    • AP Suite 6
      AP Suite 6

      Набор инструментов для атомного зонда для рабочих станций анализа данных: удобная платформа для совместной работы, позволяющая легко управлять всеми исследовательскими проектами атомно-зондовой томографии в одной среде.

      Продолжить чтение

    • IVAS Software
      IVAS

      Будучи разработанным специально для атомных зондов CAMECA, IVAS предоставляет мощные функции визуализации и анализа для быстрого и простого извлечения одномерной, двухмерной и трехмерной количественной информации, собранной приборами АЗТ.

      Продолжить чтение

  • Комплекты для модернизации +

    Опции для LEAP®

    Интегрированный плазменный очиститель
    Полностью интегрированный автоматический плазменный очиститель обеспечивает как повышение производительности, так и снижение эксплуатационных расходов на систему LEAP.

    Анализатор остаточных газов
    Позволяет проводить анализ парциального давления прибора LEAP. 

    LEAP 5000 VCTM
    Модуль вакуумного и криопереноса (VCTM) позволяет транспортировать образцы между LEAP и вспомогательными рабочими станциями, поддерживая при этом как условия сверхглубокого вакуума (UHV), так и криогенные условия. Модуль использует UHV-совместимую портативную камеру, которая полностью интегрирована (через загрузочную станцию) в LEAP 5000. Обратите внимание, что дополнительные рабочие станции также должны быть совместимы с VCTM, и эта возможность не гарантирована данной опцией. Обратитесь в отдел продаж CAMECA для получения более подробной информации.

    Пакет повышения производительности
    Расширяет возможности хранения системы LEAP и включает полностью интегрированную карусель с подогревом in situ для сокращения времени откачки, увеличения пропускной способности образца и улучшения качества вакуума.

    Антивибрационный пакет
    Платформа активной виброизоляции, позволяющая устанавливать LEAP в средах, не отвечающих стандартам вибрации; это интегрированное решение сочетает в себе активное подавление вибрации с обновленной платформой LEAP. Запатентованная пьезоэлектрическая технология подавляет вибрацию пола в режиме реального времени с активной полосой пропускания, начиная с 0,6 Гц.

    Сейсмический комплект
    Установленный на заводе сейсмический ограничитель. Для приобретения данной опции должны быть выполнены требования к полу.

    Модуль ионно-полевого микроскопа (eFIM)
    Добавьте возможности ионно-полевого микроскопа (FIM) к системе LEAP

    Опции для LEAP® и EIKOS™

    Электроуказатель
    Электроуказатель Simplex Electropointer(TM) для производства электрополированных образцов LEAP. ПК для управления и травильные химикаты не включены в комплект.8.

    Ручной электрополировальный аппарат
    Ручной электрополировальный аппарат разработан для обеспечения максимальной гибкости при изготовлении образцов из всевозможных материалов. Аппарат включает источник питания, химическую обработку и все принадлежности, необходимые для подготовки образцов атомных зондов высокого качества. (Оптический микроскоп и химические реактивы не включены в комплект.)

    Усовершенствованный комплект для подготовки образцов
    Усовершенствованный комплект для подготовки образцов включает основные компоненты, необходимые для усовершенствованной подготовки образцов на основе FIB.


  • Технические примечания +