Skip to content

EIKOS

Атомный зонд позволяет выполнять рутинный, высокопроизводительный трехмерный наноанализ для промышленных и исследовательских нужд.
Основываясь на 30-летнем опыте успешного создания приборов и оборудования для атомно-зондовой томографии, компания CAMECA разработала атомно-зондовый микроскоп EIKOS™ для быстрой разработки сплавов и исследования наноразмерных материалов.
  • Обзор продукта +


    Атомный зонд EIKOS предоставляет следующие возможности:

    • Трехмерная томография с наномасштабной характеристикой микроструктур
    • Высокоэффективное обнаружение одиночных атомов с высоким пространственным разрешением
    • Равная чувствительность ко всем элементам и их изотопам
    • Количественное измерение состава (от субнанометров практически до микрона)
    • Доступны конфигурации с режимом распыления за счет высокого напряжения или режимами распыления за счет высокого напряжения и лазерного распыления
    • Стандартные методы подготовки образцов


    Система EIKOS доступна в 2 конфигурациях:

    EIKOS
    Базовая система EIKOS устроена по принципу рефлектрона и имеет превосходное высокое разрешение по массам и отношение сигнал-шум. Предварительно отцентрованный встроенный противоэлектрод гарантирует простоту использования и высокую надежность. Система импульсного напряжения обеспечивает очень высокое качество данных для разных применений в области металлургии.

    EIKOS-UV
    Полностью настроенная система EIKOS-UV сочетает в себе все выдающиеся функции базовой системы EIKOS (импульс напряжения, функции рефлектрона, предварительно отцентрованный противоэлектрод) и дополняет их интегрированным модулем с импульсным лазером со сфокусированным пучком с компьютерным управлением, что открывает возможности использования в широком спектре областей.

    Базовую систему EIKOS можно модернизировать для получения EIKOS-UV непосредственно на объекте заказчика.

  • Узнать возможности атомного зонда EIKOS +

  • Скачать документацию +

  • View Recent Webinars +

    • Introduction to applications & technology of EIKOS-UV

      вторник, февраля 25, 2020

      Optimized or efficiency and simplicity, EIKOS-UV™ delivers all the benefits of Atom Probe Tomography and addresses a wide range of applications: metals, coatings, thin films, ceramics, minerals, functional materials in both academic and commercial environments. Robert Ulfig (CAMECA) presents the main features and functionalities of CAMECA's latest atom probe tomography instrument.
      Register here to view at any time.
      Duration: 23 minutes
    • понедельник, января 1, 0001

    • понедельник, января 1, 0001

  • видео +

  • Пользователи APT по всему миру +

  • Программное обеспечение +

    • IVAS Software
      IVAS

      Будучи разработанным специально для атомных зондов CAMECA, IVAS предоставляет мощные функции визуализации и анализа для быстрого и простого извлечения одномерной, двухмерной и трехмерной количественной информации, собранной приборами АЗТ.

      Продолжить чтение

  • Комплекты для модернизации +

    Опции для LEAP®

    Интегрированный плазменный очиститель
    Полностью интегрированный автоматический плазменный очиститель обеспечивает как повышение производительности, так и снижение эксплуатационных расходов на систему LEAP.

    Анализатор остаточных газов
    Позволяет проводить анализ парциального давления прибора LEAP. 

    LEAP 5000 VCTM
    Модуль вакуумного и криопереноса (VCTM) позволяет транспортировать образцы между LEAP и вспомогательными рабочими станциями, поддерживая при этом как условия сверхглубокого вакуума (UHV), так и криогенные условия. Модуль использует UHV-совместимую портативную камеру, которая полностью интегрирована (через загрузочную станцию) в LEAP 5000. Обратите внимание, что дополнительные рабочие станции также должны быть совместимы с VCTM, и эта возможность не гарантирована данной опцией. Обратитесь в отдел продаж CAMECA для получения более подробной информации.

    Пакет повышения производительности
    Расширяет возможности хранения системы LEAP и включает полностью интегрированную карусель с подогревом in situ для сокращения времени откачки, увеличения пропускной способности образца и улучшения качества вакуума.

    Антивибрационный пакет
    Платформа активной виброизоляции, позволяющая устанавливать LEAP в средах, не отвечающих стандартам вибрации; это интегрированное решение сочетает в себе активное подавление вибрации с обновленной платформой LEAP. Запатентованная пьезоэлектрическая технология подавляет вибрацию пола в режиме реального времени с активной полосой пропускания, начиная с 0,6 Гц.

    Сейсмический комплект
    Установленный на заводе сейсмический ограничитель. Для приобретения данной опции должны быть выполнены требования к полу.

    Модуль ионно-полевого микроскопа (eFIM)
    Добавьте возможности ионно-полевого микроскопа (FIM) к системе LEAP

    Опции для LEAP® и EIKOS™

    Электроуказатель
    Электроуказатель Simplex Electropointer(TM) для производства электрополированных образцов LEAP. ПК для управления и травильные химикаты не включены в комплект.8.

    Ручной электрополировальный аппарат
    Ручной электрополировальный аппарат разработан для обеспечения максимальной гибкости при изготовлении образцов из всевозможных материалов. Аппарат включает источник питания, химическую обработку и все принадлежности, необходимые для подготовки образцов атомных зондов высокого качества. (Оптический микроскоп и химические реактивы не включены в комплект.)

    Усовершенствованный комплект для подготовки образцов
    Усовершенствованный комплект для подготовки образцов включает основные компоненты, необходимые для усовершенствованной подготовки образцов на основе FIB.


  • Technical notes +