IMS 7f-Auto компании CAMECA широко используется для контроля добавок в полупроводниковой промышленности и применяется к различным видам и системам материалов.
Динамическая ВИМС – одна из самых эффективных технологий для измерения микроконцентраций примесей в полупроводниках.
Приборы ВИМС со сверхнизкой ударной энергией используют для контроля глубинного распределения добавок.
Атомно-зондовая томография обладает уникальной способностью отображать пространственное распределение и химическую идентичность добавок во всех более компактных транзисторных устройствах.